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微細形狀測定機臺階儀

KOSAKA小坂微細形狀測定機ET4300

ET4000A ET4000L ET4000M ET4000AK ET4300OSAKA小坂研究所營業(yè)項目：自動車光電半導體精密測定機器，表面粗度測定機，微細形狀測定，輪廓形狀測定機，真圓度測定/真圓度圓筒形狀測定機營業(yè)項目適應行業(yè)：表面粗糙度測量機：使用鉆石或是激光光學測針、接觸（追蹤）加工件表面、測量出工件表面微細凹凸、并以定型或定量來分析粗糙度參數(shù)。微細形狀、臺階測量計：FPD基板、硅晶片、
KOSAKA LAB ET 4000系列臺階儀(探針接觸式輪廓儀/微細形狀測定機)

ET4000系列中，有ET4000A(多動能、自動化、可添加一款3D軟件，掃出測量表面的3D形貌) ，ET4000L(完全自動化的,針對體積較大的樣品可與大型精密貴重玻璃或晶片尺寸樣品) ，ET4000M(Y軸方向手動移動、性價比高、易于使用) ，常用的是ET4000A。ET4000系列具有良好的穩(wěn)定性、高精度和強大的功能。在平板顯示器FPD，晶片，硬盤和其他納米尺度上的應用廣泛。主要特點：（1）
小坂臺階儀膜厚儀探針接觸式臺階高度儀ET200A-3D晶圓輪廓儀

KOSAKA ET200A-3D設(shè)備特點：KOSAKA ET200A-3D 在ET200A 的基礎(chǔ)上，增加了Y 軸電動移動功能，以及3D 測量及解析功能?；赪indows 操作系統(tǒng)為多種不同表面提供全面的形貌分析，包括半導體硅片、太陽能基板、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫(yī)學器件、薄膜/化學涂層、平板顯示、觸摸屏等。使用金剛石（鉆石）探針接觸測量的方式來實現(xiàn)高精度表面形貌分析
探針接觸式臺階儀ET200A-D二維/三維表面粗度操作簡單方便快捷

株式會社小坂研究所（KOSAKA）是于 1950 年創(chuàng)立的公司，也是日本一家發(fā)表光學杠桿表面粗糙度計，是一家具有悠久歷史與技術(shù)背景的業(yè)廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。其中測定部門為具代表性單位且在日本精密測定業(yè)占有一席無法被取代的地位設(shè)備特點：KOSAKA ET200A 基于 Windows 操作系統(tǒng)為多種不同表面提供全面的形貌分析，包括半導體硅片、太陽能基板、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電
日本小坂KOSAKA 臺階儀微細形狀測定機ET200A

株式會社小坂研究所（KOSAKA）是于 1950 年創(chuàng)立的公司，也是日本一家發(fā)表光學杠桿表面粗糙度計，是一家具有悠久歷史與技術(shù)背景的業(yè)廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。其中測定部門為具代表性單位且在日本精密測定業(yè)占有一席無法被取代的地位。設(shè)備特點：KOSAKA ET200A 基于 Windows 操作系統(tǒng)為多種不同表面提供全面的形貌分析，包括半導體硅片、太陽能基板、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光