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光譜儀 MESA-50K-堀場X射線熒光分析儀日本HORIBA
光譜儀 MESA-50K-堀場X射線熒光分析儀日本HORIBA 國內總代X射線熒光分析儀為了滿足 RoHS/ELV 測試和分析有害元素,HORIBA 提供了 X 射線熒光分析儀 XGT-1000WR 系列。 自 2002 年以來,全球已有 1000 臺儀器用于這些應用,以滿足客戶在不切割樣品的情況下分析樣品的關鍵需求。 2012 年,HORIBA發(fā)布了直觀便捷的 MESA-50 X射線熒光分析儀,
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日本horiba堀場光譜儀X 射線熒光分析儀 型號 MESA-50 塔瑪薩崎電子
日本horiba堀場光譜儀X 射線熒光分析儀 型號 MESA-50 塔瑪薩崎電子代理品牌:OTSUKA大塚電子(薄膜測厚儀、偏光片檢測、納米粒度分析儀、ZATA電位儀、相位差膜·光學材料檢查設備、液晶層間隙量測設備等)、SANKO三高、NPM日脈、東機產業(yè)(粘度計)、CCS(視檢查光源)、Aitec(視檢查光源)、REVOX萊寶克斯(視檢查光源)、EYE巖崎(UV汞燈)、SEN 日森、SERIC索
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日本horiba堀場光學顯微鏡 微區(qū)X射線熒光分析儀 XGT-9000SL
日本horiba堀場光學顯微鏡 微區(qū)X射線熒光分析儀 XGT-9000SL國內總代代理品牌:OTSUKA大塚電子(薄膜測厚儀、偏光片檢測、納米粒度分析儀、ZATA電位儀、相位差膜·光學材料檢查設備、液晶層間隙量測設備等)、SANKO三高、NPM日脈、東機產業(yè)(粘度計)、CCS(視檢查光源)、Aitec(視檢查光源)、REVOX萊寶克斯(視檢查光源)、EYE巖崎(UV汞燈)、SEN 日森、SERIC
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HORIBA XGT-9000 X射線顯微分析儀 堀場進口XRF熒光光譜儀
HORIBA XGT-9000 X射線顯微分析儀 堀場進口XRF熒光光譜儀 國內總代代理品牌:OTSUKA大塚電子(薄膜測厚儀、偏光片檢測、納米粒度分析儀、ZATA電位儀、相位差膜·光學材料檢查設備、液晶層間隙量測設備等)、SANKO三高、NPM日脈、東機產業(yè)(粘度計)、CCS(視檢查光源)、Aitec(視檢查光源)、REVOX萊寶克斯(視檢查光源)、EYE巖崎(UV汞燈)、SEN 日森、SERI
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HORIBA堀場Nanolog模塊化科研級穩(wěn)瞬態(tài)熒光光譜儀
HORIBA堀場Nanolog模塊化科研級穩(wěn)瞬態(tài)熒光光譜儀代理品牌:OTSUKA大塚電子(薄膜測厚儀、偏光片檢測、納米粒度分析儀、ZATA電位儀、相位差膜·光學材料檢查設備、液晶層間隙量測設備等)、SANKO三高、NPM日脈、東機產業(yè)(粘度計)、CCS(視檢查光源)、Aitec(視檢查光源)、REVOX萊寶克斯(視檢查光源)、EYE巖崎(UV汞燈)、SEN 日森、SERIC索萊克、各類日本光源 索
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日本堀場FluoroMax高靈敏一體式熒光光譜儀塔瑪薩崎總代
日本堀場FluoroMax高靈敏一體式熒光光譜儀塔瑪薩崎總代代理品牌:OTSUKA大塚電子(薄膜測厚儀、偏光片檢測、納米粒度分析儀、ZATA電位儀、相位差膜·光學材料檢查設備、液晶層間隙量測設備等)、SANKO三高、NPM日脈、東機產業(yè)(粘度計)、CCS(視檢查光源)、Aitec(視檢查光源)、REVOX萊寶克斯(視檢查光源)、EYE巖崎(UV汞燈)、SEN 日森、SERIC索萊克、各類日本光源
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Fluorolog-QM模塊化科研級穩(wěn)瞬態(tài)熒光光譜塔馬薩崎一級HORIBA堀場
Fluorolog-QM模塊化科研級穩(wěn)瞬態(tài)熒光光譜塔馬薩崎一級HORIBA堀場代理品牌:OTSUKA大塚電子(薄膜測厚儀、偏光片檢測、納米粒度分析儀、ZATA電位儀、相位差膜·光學材料檢查設備、液晶層間隙量測設備等)、SANKO三高、NPM日脈、東機產業(yè)(粘度計)、CCS(視檢查光源)、Aitec(視檢查光源)、REVOX萊寶克斯(視檢查光源)、EYE巖崎(UV汞燈)、SEN 日森、SERIC索萊
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日本HORIBA堀場熒光及吸收光譜儀Duetta塔瑪薩崎總代
日本HORIBA堀場熒光及吸收光譜儀Duetta塔瑪薩崎總代代理品牌:OTSUKA大塚電子(薄膜測厚儀、偏光片檢測、納米粒度分析儀、ZATA電位儀、相位差膜·光學材料檢查設備、液晶層間隙量測設備等)、SANKO三高、NPM日脈、東機產業(yè)(粘度計)、CCS(視檢查光源)、Aitec(視檢查光源)、REVOX萊寶克斯(視檢查光源)、EYE巖崎(UV汞燈)、SEN 日森、SERIC索萊克、各類日本光源