日本HORIBA堀場熒光及吸收光譜儀Duetta塔瑪薩崎總代

代理品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、偏光片檢測、納米粒度分析儀、ZATA電位儀、相位差膜·光學(xué)材料檢查設(shè)備、液晶層間隙量測設(shè)備等）、SANKO三高、NPM日脈、東機(jī)產(chǎn)業(yè)（粘度計(jì)）、CCS（視檢查光源）、Aitec（視檢查光源）、REVOX萊寶克斯（視檢查光源）、EYE巖崎（UV汞燈）、SEN 日森、SERIC索萊克、各類日本光源 索尼克（風(fēng)速計(jì)、流量計(jì)等）、坂口電熱（加熱器、制冷片）、NEWKON新光（針孔機(jī)）、NS精密科學(xué)（柱塞泵、高壓耐腐蝕防爆泵）   、SIBATA柴田科學(xué)、SAKURAI櫻井

優(yōu)勢品牌：AND艾安得、TOA-DKK東亞電波、JIKCO吉高、RKC理化工業(yè)、KYOWA共和、IIJIMA飯島電子、HORIBA堀場、EXCEL艾庫斯、HEIDON新東科學(xué)、USHIO牛尾、TOPCON拓普康、ORC歐阿西、SEKONIC日本世光、Tokyokoden東京光電、DSK電通、SAGADEN嵯峨電機(jī)、FUNATECH船越龍、HIKARIYA光屋、POLARION普拉瑞、HAYASHI林時(shí)計(jì)、MACOME碼控美、TML東京測器等等各日本品牌工業(yè)產(chǎn)品

熒光及吸收光譜儀

Duetta? 熒光光譜儀同時(shí)結(jié)合了熒光光譜儀和吸收光譜儀的功能。它標(biāo)配超快先進(jìn)的 CCD 技術(shù)，能在 100 毫秒內(nèi)獲得 250 nm-1100 nm的全范圍光譜，讓它的采集速度數(shù)倍優(yōu)于其他使用 PMT 的熒光光譜儀。

一個(gè)更佳的光譜儀理念

熒光的未來

• 同步吸收 - 熒光光譜儀

• UV-Vis-NIR 熒光檢測波長范圍 250 nm-1100 nm

• 一秒內(nèi)獲取三維熒光全譜

• 高熒光靈敏度，水拉曼 RMS 6000:1

• 自動(dòng)校準(zhǔn)主次內(nèi)濾效應(yīng)

• 先進(jìn)的 A-TEEM ? 指紋熒光技術(shù)，高保真識(shí)別分子指紋

• CCD 檢測器實(shí)現(xiàn)毫秒內(nèi)完成整個(gè)熒光光譜采集

熒光及吸收合二為一的光譜儀 !

Duetta 可作為熒光光譜儀使用，也可以作為 UV-Vis-NIR 光譜儀 測量吸光度，或用于測量真實(shí)的分子指紋，這需要同步獲取 熒光和吸光度，同時(shí)進(jìn)行內(nèi)濾效應(yīng)校正。
 

瞬間獲得熒光光譜!

Duetta 標(biāo)配超快先進(jìn)的 CCD 技術(shù)，讓它在采集速度的數(shù)倍優(yōu)于任何使用 PMT 的熒光光譜儀。Duetta 是少見的能在 100 毫秒內(nèi) 獲得 250 nm-1100 nm 校正光譜信息的一體式熒光光譜儀。這一先進(jìn)的 CCD 技術(shù)也將近紅外檢測光譜范圍擴(kuò)展到 1100 nm， 遠(yuǎn)超過標(biāo)準(zhǔn) PMT 熒光儀的光譜范圍。
 

高靈敏度

經(jīng)過優(yōu)化設(shè)計(jì)的 Duetta，擁有高水平的靈敏度，意味著可測更低濃度的樣品，并提供更準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)
 

EzSpec? 觸屏操作軟件!

Duetta 使用 HORIBA 新一代 EzSpec 軟件，使熒光光譜儀從此進(jìn)入了智能觸屏?xí)r代，生動(dòng)立體的人機(jī)互動(dòng)，量身定制的用戶體驗(yàn)；升級常規(guī)分析用軟件模塊，可具有定制化、個(gè)性化分析測試。
 

全新光譜儀設(shè)計(jì)