Fluorolog-QM模塊化科研級(jí)穩(wěn)瞬態(tài)熒光光譜塔馬薩崎一級(jí)HORIBA堀場(chǎng)
代理品牌:OTSUKA大塚電子(薄膜測(cè)厚儀、偏光片檢測(cè)、納米粒度分析儀、ZATA電位儀、相位差膜·光學(xué)材料檢查設(shè)備、液晶層間隙量測(cè)設(shè)備等)、SANKO三高、NPM日脈、東機(jī)產(chǎn)業(yè)(粘度計(jì))、CCS(視檢查光源)、Aitec(視檢查光源)、REVOX萊寶克斯(視檢查光源)、EYE巖崎(UV汞燈)、SEN 日森、SERIC索萊克、各類日本光源 索尼克(風(fēng)速計(jì)、流量計(jì)等)、坂口電熱(加熱器、制冷片)、NEWKON新光(針孔機(jī))、NS精密科學(xué)(柱塞泵、高壓耐腐蝕防爆泵) 、SIBATA柴田科學(xué)、SAKURAI櫻井
優(yōu)勢(shì)品牌:AND艾安得、TOA-DKK東亞電波、JIKCO吉高、RKC理化工業(yè)、KYOWA共和、IIJIMA飯島電子、HORIBA堀場(chǎng)、EXCEL艾庫(kù)斯、HEIDON新東科學(xué)、USHIO牛尾、TOPCON拓普康、ORC歐阿西、SEKONIC日本世光、Tokyokoden東京光電、DSK電通、SAGADEN嵯峨電機(jī)、FUNATECH船越龍、HIKARIYA光屋、POLARION普拉瑞、HAYASHI林時(shí)計(jì)、MACOME碼控美、TML東京測(cè)器等等各日本品牌工業(yè)產(chǎn)品
模塊化科研級(jí)穩(wěn)瞬態(tài)熒光光譜
HORIBA Fluorolog-QM 系列模塊化科研級(jí)熒光光譜儀是聞名于世的 HORIBA 第四代熒光光譜儀,第一代于1975年由Spex Industries公司開發(fā)
Fluorolog-QM代表了數(shù)十年 HORIBA 的行業(yè)先進(jìn)經(jīng)驗(yàn)以及制造高水平和功能多樣性的熒光光譜儀的頂峰。相較于其他任何熒光光譜儀,F(xiàn)luorolog-QM以其精致的造型,全波長(zhǎng)范圍內(nèi)卓越的反射性能以及眾多的光源和檢測(cè)器選擇方案,多種附件選擇方案等優(yōu)勢(shì),為熒光測(cè)試提供無與倫比的高靈敏度和無限拓展性。
Fluorolog-QM 可搭配行業(yè)內(nèi)廣泛的可選配件進(jìn)行拓展,以適應(yīng)多種發(fā)光測(cè)試實(shí)驗(yàn),從而滿足所有嚴(yán)苛的實(shí)驗(yàn)測(cè)試需求。當(dāng)您購(gòu)買了一臺(tái) Fluorolog-QM,系統(tǒng)可在您需求變化時(shí)隨時(shí)進(jìn)行拓展。
在世界各地的大學(xué)和研究所,在上千所的大學(xué)或?qū)嶒?yàn)室中,以及上萬(wàn)篇的文章和書籍的報(bào)道中,F(xiàn)luorolog證明了是穩(wěn)態(tài)、時(shí)間分辨、TCSPC,PLQY和近紅外測(cè)試的理想選擇。
Fluorolog-QMTM獨(dú)特優(yōu)勢(shì):
反射式光路設(shè)計(jì),保證全波長(zhǎng)范圍性能優(yōu)化
高靈敏度保證
優(yōu)異的雜散光抑制比,像差校正長(zhǎng)焦長(zhǎng)單色儀(單級(jí):350 mm,雙級(jí):700 mm)
新一代專業(yè)分析軟件,滿足所有穩(wěn)態(tài)和壽命測(cè)試需求,具有多種全新功能
擴(kuò)展波長(zhǎng)范圍,從深紫外到近紅外區(qū)域
可同時(shí)連接4種光源和6個(gè)檢測(cè)器,且全部由電腦控制,實(shí)現(xiàn)多功能測(cè)試
即插即用,100 MHz脈沖光源,強(qiáng)化TCSPC壽命功能
近紅外穩(wěn)態(tài)和磷光壽命檢測(cè)波長(zhǎng)至5500 nm
優(yōu)化的光學(xué)設(shè)計(jì),深紫外激發(fā)(低至180 nm),無臭氧

