HORIBA堀場(chǎng)Nanolog模塊化科研級(jí)穩(wěn)瞬態(tài)熒光光譜儀

代理品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測(cè)厚儀、偏光片檢測(cè)、納米粒度分析儀、ZATA電位儀、相位差膜·光學(xué)材料檢查設(shè)備、液晶層間隙量測(cè)設(shè)備等）、SANKO三高、NPM日脈、東機(jī)產(chǎn)業(yè)（粘度計(jì)）、CCS（視檢查光源）、Aitec（視檢查光源）、REVOX萊寶克斯（視檢查光源）、EYE巖崎（UV汞燈）、SEN 日森、SERIC索萊克、各類(lèi)日本光源 索尼克（風(fēng)速計(jì)、流量計(jì)等）、坂口電熱（加熱器、制冷片）、NEWKON新光（針孔機(jī)）、NS精密科學(xué)（柱塞泵、高壓耐腐蝕防爆泵）   、SIBATA柴田科學(xué)、SAKURAI櫻井

優(yōu)勢(shì)品牌：AND艾安得、TOA-DKK東亞電波、JIKCO吉高、RKC理化工業(yè)、KYOWA共和、IIJIMA飯島電子、HORIBA堀場(chǎng)、EXCEL艾庫(kù)斯、HEIDON新東科學(xué)、USHIO牛尾、TOPCON拓普康、ORC歐阿西、SEKONIC日本世光、Tokyokoden東京光電、DSK電通、SAGADEN嵯峨電機(jī)、FUNATECH船越龍、HIKARIYA光屋、POLARION普拉瑞、HAYASHI林時(shí)計(jì)、MACOME碼控美、TML東京測(cè)器等等各日本品牌工業(yè)產(chǎn)品

模塊化科研級(jí)穩(wěn)瞬態(tài)熒光光譜儀

我們的模塊化科研級(jí)Nanolog穩(wěn)瞬態(tài)熒光光譜儀是專(zhuān)門(mén)為納米技術(shù)和納米材料的研究而設(shè)計(jì)的。

Nanolog?系列熒光光譜儀是專(zhuān)門(mén)為納米技術(shù)和納米材料等前沿研究而設(shè)計(jì)的。可實(shí)現(xiàn)幾毫秒內(nèi)獲得完整光譜，幾秒內(nèi)獲得而完整的激發(fā)發(fā)射三維矩陣。

基于世界公認(rèn)的Fluorolog?技術(shù)，Nanolog?除可實(shí)現(xiàn)紫外和可見(jiàn)光區(qū)域內(nèi)熒光檢測(cè)外，也可在800-1700nm的近紅外范圍內(nèi)檢測(cè)熒光信號(hào)（可選擇多通道檢測(cè)至2um，單通道檢測(cè)至3um。Nanolog?配有專(zhuān)門(mén)設(shè)計(jì)的軟件Nanosizer，是對(duì)SWNTs、量子點(diǎn)等納秒材料進(jìn)行分類(lèi)和能量傳遞計(jì)算的理想選擇。

技術(shù)特點(diǎn)

• 超快三維光譜采集速度（在幾秒鐘內(nèi)即可快速完成激發(fā)-發(fā)射矩陣掃描）

• 陣列InGaAs檢測(cè)器具有近紅外高靈敏度

• 高分辨率

• 實(shí)現(xiàn)SWNTs種類(lèi)和系列的鑒定和量化分析

• 兼容從紫外到近紅外等各種檢測(cè)器

• 光電倍增管可現(xiàn)在最高靈敏度和時(shí)間分辨分析

• CCD和陣列InGaAs檢測(cè)器可實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)快速采集

• 量子點(diǎn)混合物能量傳遞實(shí)驗(yàn)研究

• 模塊化設(shè)計(jì)

• 450 W 連續(xù)氙燈，用于從紫外到近紅外區(qū)域激發(fā)

• 幾秒鐘完成激發(fā)-發(fā)射三維矩陣掃描

• InGaAs陣列檢測(cè)器。800-1700nm；256 x 1,512 x 1和1024 x 1三種像素格式，間距小至25 μm；噪聲低至650 erms，液氮制冷以獲得最佳信噪比；可選擇電制冷；擴(kuò)展檢測(cè)范圍選項(xiàng)（1.1 - 2.2 μm）。

• iHR320成像光譜儀：焦距=320mm；f/4.1；色散=2.31nm/mm；分辨率=0.06nm（帶狹縫）；軟件控制的三層光柵塔輪（所有測(cè)量均采用1200 grove/mm的光柵

• 可提供固態(tài)近紅外檢測(cè)器，紫外到近紅外的光電倍增管，時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)的壽命測(cè)試（100ps到1ms，紫外到近紅外），門(mén)控技術(shù)的壽命測(cè)試（1μs到>10s，紫外到近紅外），以及頻域壽命測(cè)量（10ps到10μs，紫外到近紅外）。