光譜儀 MESA-50K-堀場X射線熒光分析儀日本HORIBA 國內(nèi)總代

X射線熒光分析儀

為了滿足 RoHS/ELV 測試和分析有害元素，HORIBA 提供了 X 射線熒光分析儀 XGT-1000WR 系列。 自 2002 年以來，全球已有 1000 臺儀器用于這些應(yīng)用，以滿足客戶在不切割樣品的情況下分析樣品的關(guān)鍵需求。 2012 年，HORIBA發(fā)布了直觀便捷的 MESA-50 X射線熒光分析儀，在很短的時間內(nèi)變得非常流行，2013 年，MESA-50 系列增加了一種帶有大樣品室的新型 MESA-50K, 它配備了無需液氮的精密檢測器，As/Sb 分析功能和多層膜FPM 可作為可選功能。

1. 快速

• 硅漂移檢測器(SDD) 大幅度減少了測量時間，在高通量的同時提供了更高的靈敏度

2. 小巧

• 便攜、體積小、重量輕

• 內(nèi)部電池供電

3. 簡單

• 減少日常維護(hù)工作（無需液氮）

• 無需真空泵

• 各種材料測量直觀簡單

4. 智能

• 英文/日文/中文多語言操作界面

• Excel數(shù)據(jù)管理工具

5. 安全

• 無需擔(dān)心 X 射線泄漏