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日本KOSAKA小坂臺階儀國內(nèi)總代理

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日本KOSAKA小坂臺階儀國內(nèi)總代理

  • KOSAKA 小坂 可以高精度自動測量樣品尺寸 臺階儀ET8000

    代理品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、偏光片檢測、納米粒度分析儀、ZATA電位儀、相位差膜·光學(xué)材料檢查設(shè)備、液晶層間隙量測設(shè)備等）、SANKO三高、NPM日脈、東機(jī)產(chǎn)業(yè)（粘度計）、CCS（視檢查光源）、Aitec（視檢查光源）、REVOX萊寶克斯（視檢查光源）、EYE巖崎（UV汞燈）、SEN 日森、SERIC索萊克、各類日本光源 索尼克（風(fēng)速計、流量計等）、坂口電熱（加熱器、制冷片）、NE

  • KOSAKA 小坂 多功能全自動微形測量機(jī) 臺階儀 ET4000A

    產(chǎn)品介紹：株式會社小坂研究所（KOSAKA）是于 1950 年創(chuàng)立的公司，也是日本 家發(fā)表光學(xué)干杠桿表面粗糙度計，是一家具有悠久歷史與技術(shù)背景的專業(yè)廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。其中測定部門為 代表性單位且在日本精密測定業(yè)占有一席無法被取代的地位。ET4000系列中，有ET4000A(多動能、自動化、可添加一款3D軟件，掃出測量表面的3D形貌) ，ET4000L(完全自動化的,針對體積較大

  • KOSAKA 小坂 全自動微形測量機(jī)處理大尺寸 臺階儀 ET4000L

    ET4000A ET4000L ET4000M ET4000AK ET3000產(chǎn)品介紹株式會社小坂研究所（KOSAKA）是于 1950 年創(chuàng)立的公司，也是日本 家發(fā)表光學(xué)干杠桿表面粗糙度計，是一家具有悠久歷史與技術(shù)背景的專業(yè)廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。其中測定部門為 代表性單位且在日本精密測定業(yè)占有一席無法被取代的地位。ET4000系列中，有ET4000A(多動能、自動化、可添加一款3D

  • 日本小坂KOSAKA 臺階儀 - 微細(xì)形狀測定機(jī)ET4000M

    代理品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、偏光片檢測、納米粒度分析儀、ZATA電位儀、相位差膜·光學(xué)材料檢查設(shè)備、液晶層間隙量測設(shè)備等）、SANKO三高、NPM日脈、東機(jī)產(chǎn)業(yè)（粘度計）、CCS（視檢查光源）、Aitec（視檢查光源）、REVOX萊寶克斯（視檢查光源）、EYE巖崎（UV汞燈）、SEN 日森、SERIC索萊克、各類日本光源 索尼克（風(fēng)速計、流量計等）、坂口電熱（加熱器、制冷片）、NE

  • KOSAKA小坂微細(xì)形狀測定機(jī)ET4000AK

    KOSAKA小坂研究所營業(yè)項目：自動車光電半導(dǎo)體精密測定機(jī)器，表面粗度測定機(jī)，微細(xì)形狀測定，輪廓形狀測定機(jī)，真圓度測定/真圓度圓筒形狀測定機(jī)營業(yè)項目適應(yīng)行業(yè)：表面粗糙度測量機(jī)：使用鉆石或是激光光學(xué)測針、接觸（追蹤）加工件表面、測量出工件表面微細(xì)凹凸、并以定型或定量來分析粗糙度參數(shù)。微細(xì)形狀、臺階測量計：FPD基板、硅晶片、硬磐等表面微細(xì)形狀、臺階、粗糙度測量圓度、圓柱形狀測量機(jī)：測量發(fā)動機(jī)、缸體、

  • KOSAKA小坂微細(xì)形狀測定機(jī)ET4300

    ET4000A ET4000L ET4000M ET4000AK ET4300OSAKA小坂研究所營業(yè)項目：自動車光電半導(dǎo)體精密測定機(jī)器，表面粗度測定機(jī)，微細(xì)形狀測定，輪廓形狀測定機(jī)，真圓度測定/真圓度圓筒形狀測定機(jī)營業(yè)項目適應(yīng)行業(yè)：表面粗糙度測量機(jī)：使用鉆石或是激光光學(xué)測針、接觸（追蹤）加工件表面、測量出工件表面微細(xì)凹凸、并以定型或定量來分析粗糙度參數(shù)。微細(xì)形狀、臺階測量計：FPD基板、硅晶片、

  • KOSAKA LAB ET 4000系列臺階儀(探針接觸式輪廓儀/微細(xì)形狀測定機(jī))

    ET4000系列中，有ET4000A(多動能、自動化、可添加一款3D軟件，掃出測量表面的3D形貌) ，ET4000L(完全自動化的,針對體積較大的樣品可與大型精密貴重玻璃或晶片尺寸樣品) ，ET4000M(Y軸方向手動移動、性價比高、易于使用) ，常用的是ET4000A。ET4000系列具有良好的穩(wěn)定性、高精度和強(qiáng)大的功能。在平板顯示器FPD，晶片，硬盤和其他納米尺度上的應(yīng)用廣泛。主要特點(diǎn)：（1）

  • 小坂臺階儀膜厚儀探針接觸式臺階高度儀ET200A-3D晶圓輪廓儀

    KOSAKA ET200A-3D設(shè)備特點(diǎn)：KOSAKA ET200A-3D 在ET200A 的基礎(chǔ)上，增加了Y 軸電動移動功能，以及3D 測量及解析功能?；赪indows 操作系統(tǒng)為多種不同表面提供全面的形貌分析，包括半導(dǎo)體硅片、太陽能基板、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫(yī)學(xué)器件、薄膜/化學(xué)涂層、平板顯示、觸摸屏等。使用金剛石（鉆石）探針接觸測量的方式來實(shí)現(xiàn)高精度表面形貌分析

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