堀場Smart SE智能型多功能橢偏儀日本原裝進口

Smart SE- 功能強大，高性價比橢偏儀

智能型多功能橢偏儀

Smart SE,  智能型多功能橢偏儀

Smart SE 是一款通用型薄膜測量工具。測試速度快，準確。它可以表征幾埃到20μm薄膜厚度、光學常數(shù)（n, k）以及薄膜結(jié)構(gòu)特性（如粗糙度、光學梯度及各向異性等）。

Smart SE利用 DeltaPsi2 軟件平臺在幾分鐘內(nèi)對450-1000nm的光譜數(shù)據(jù)進行采集、建模分析。自動化雙軟件操作平臺，從簡化的工作流程到高端研發(fā)，滿足不同層次和需求的客戶。

Smart SE是一款性價比極高的薄膜研發(fā)工具，以經(jīng)濟實惠的價格提供了研究級的性能。標配一套完整樣品可視化系統(tǒng)，準確定位分析位置及區(qū)域，7個不同尺寸的微光斑可用于微區(qū)特征分析。幾秒鐘即可獲得完整的16位穆勒矩陣，用于復雜樣本的研究。

Smart SE配置靈活、具備多角度測量能力，可方便實現(xiàn)在線與離線配置切換。是一款針對單層和多層薄膜進行簡單、快速、準確表征和分析的工具, 可用于在線原為測試。Smart Se可以滿足各類應用領域，包括微電子，光伏，顯示，光學涂料，表面處理和有機化合物等。

• 快速、準確

• 易于升級

• 光斑可視化