日本HORIBA 一鍵式全自動(dòng)快速橢偏儀 Auto SE 塔瑪薩崎總代
代理品牌:OTSUKA大塚電子(薄膜測(cè)厚儀、偏光片檢測(cè)、納米粒度分析儀、ZATA電位儀、相位差膜·光學(xué)材料檢查設(shè)備、液晶層間隙量測(cè)設(shè)備等)、SANKO三高、NPM日脈、東機(jī)產(chǎn)業(yè)(粘度計(jì))、CCS(視檢查光源)、Aitec(視檢查光源)、REVOX萊寶克斯(視檢查光源)、EYE巖崎(UV汞燈)、SEN 日森、SERIC索萊克、各類日本光源 索尼克(風(fēng)速計(jì)、流量計(jì)等)、坂口電熱(加熱器、制冷片)、NEWKON新光(針孔機(jī))、NS精密科學(xué)(柱塞泵、高壓耐腐蝕防爆泵) 、SIBATA柴田科學(xué)、SAKURAI櫻井
優(yōu)勢(shì)品牌:AND艾安得、TOA-DKK東亞電波、JIKCO吉高、RKC理化工業(yè)、KYOWA共和、IIJIMA飯島電子、HORIBA堀場(chǎng)、EXCEL艾庫(kù)斯、HEIDON新東科學(xué)、USHIO牛尾、TOPCON拓普康、ORC歐阿西、SEKONIC日本世光、Tokyokoden東京光電、DSK電通、SAGADEN嵯峨電機(jī)、FUNATECH船越龍、HIKARIYA光屋、POLARION普拉瑞、HAYASHI林時(shí)計(jì)、MACOME碼控美、TML東京測(cè)器等等各日本品牌工業(yè)產(chǎn)品
一鍵式全自動(dòng)快速橢偏儀
Auto SE是一種新型薄膜測(cè)量工具。僅需簡(jiǎn)單的幾個(gè)按鈕,幾秒鐘內(nèi)即可自動(dòng)完成樣品測(cè)量和分析,并提供完整的薄膜特性分析報(bào)告,包括薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)、表面粗糙度和薄膜的不均勻性、反射率或透過率。
Auto SE全自動(dòng)化設(shè)計(jì)、一鍵式操作,功能齊全。配備自動(dòng)XYZ樣品臺(tái)進(jìn)行成像分析,自動(dòng)切換微光斑,多種附件可選,以滿足不同的應(yīng)用需求。
Auto SE借助完整的操作向?qū)В?span style="box-sizing: border-box; font-weight: bolder;">自動(dòng)檢測(cè)并診斷問題,對(duì)故障進(jìn)行處理,儀器維護(hù)簡(jiǎn)單
Auto SE是用于快速薄膜測(cè)量和器件質(zhì)量控制理想的解決方案。
全自動(dòng)流程,薄膜分析更容易
高性能系統(tǒng)
光斑可視化,微光斑可至25x60 μm
功能齊全和靈活
智能診斷
光譜范圍:440-1000nm
光斑尺寸:7個(gè)尺寸微光斑全自動(dòng)切換500x500 μm; 250x500 μm; 250x250 μm; 70x250 μm; 100x100 μm; 50x60 μm; 25x60 μm
探測(cè)系統(tǒng):CCD,分辨率2nm
樣品臺(tái):真空吸盤,Z軸行程40mm
光斑可視系統(tǒng):CCD攝像機(jī)-視野1.33x1 mm-分辨率10μm
量角器:固定角70°,也可選擇66°或61.5°
多種附件可選
測(cè)試時(shí)間:<2s,常規(guī)為5s
準(zhǔn)確性:NIST 100nm d ± 4?, n(632.8nm) ± 0.002
重復(fù)性:NIST 15nm ± 0.2 ?
