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二維分光可變角色差計GC-5000NDK日本電色 塔瑪薩崎供應
二維分光可變角色差計GC-5000NDK日本電色 塔瑪薩崎供應代理品牌:OTSUKA大塚電子(薄膜測厚儀、偏光片檢測、納米粒度分析儀、ZATA電位儀、相位差膜·光學材料檢查設備、液晶層間隙量測設備等)、SANKO三高、NPM日脈、東機產(chǎn)業(yè)(粘度計)、CCS(視檢查光源)、Aitec(視檢查光源)、REVOX萊寶克斯(視檢查光源)、EYE巖崎(UV汞燈)、SEN 日森、SERIC索萊克、各類日本光源
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DDS-5000型三維分光可變角色差計日本電色國內(nèi)總代
DDS-5000型三維分光可變角色差計日本電色儀器簡介:用于對本身和可能在角度改變時顯示出不同光譜反射率的材料,測量其選擇性的參數(shù)。適合于對汽車的線 路板、音響設備、墨水、金屬噴涂、塑料、LCD散射板、各種反光板和LCD背景光等等的測量。技術參數(shù):光 源 鹵素燈,12V/50W光學通道 全波長連續(xù)校正被測物規(guī)格 最?。?0x30mm;最大:150x150mm光投射角度 反射:0?-70?步進5?
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發(fā)光二極管發(fā)光分布測定裝置NDK日本電色 透過色測定儀GC 5000L
發(fā)光二極管發(fā)光分布測定裝置NDK日本電色 透過色測定儀GC 5000L代理品牌:OTSUKA大塚電子(薄膜測厚儀、偏光片檢測、納米粒度分析儀、ZATA電位儀、相位差膜·光學材料檢查設備、液晶層間隙量測設備等)、SANKO三高、NPM日脈、東機產(chǎn)業(yè)(粘度計)、CCS(視檢查光源)、Aitec(視檢查光源)、REVOX萊寶克斯(視檢查光源)、EYE巖崎(UV汞燈)、SEN 日森、SERIC索萊克、各類
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濁度儀/比濁計NDH-2000型日本電色塔瑪薩崎有售
濁度儀/比濁計NDH-2000型日本電色塔瑪薩崎有售國內(nèi)總代代理品牌:OTSUKA大塚電子(薄膜測厚儀、偏光片檢測、納米粒度分析儀、ZATA電位儀、相位差膜·光學材料檢查設備、液晶層間隙量測設備等)、SANKO三高、NPM日脈、東機產(chǎn)業(yè)(粘度計)、CCS(視檢查光源)、Aitec(視檢查光源)、REVOX萊寶克斯(視檢查光源)、EYE巖崎(UV汞燈)、SEN 日森、SERIC索萊克、各類日本光源
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濁度計/比濁計NDH-5000W型日本nippondenshoku電色工業(yè)國內(nèi)總代
濁度計/比濁計NDH-5000W型日本nippondenshoku電色工業(yè)國內(nèi)總代NDH-5000W型 濁度計 產(chǎn)品特點:符合三種標準:JIS K 7361,ISO 13468,JIS K 71362000,ISO 147681999,JIS K 7105,ASTM D 1003,以及150mm直徑的積分球作為特別的標準,對于透明塑料樣品采用補償孔,以消除在積分球效率上的差異測定快速和高準確度的自
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密度計日本電色工業(yè)日本nippondenshoku電色工業(yè) ND-11型便攜式
密度計日本電色工業(yè)日本nippondenshoku電色工業(yè) ND-11型便攜式代理品牌:OTSUKA大塚電子(薄膜測厚儀、偏光片檢測、納米粒度分析儀、ZATA電位儀、相位差膜·光學材料檢查設備、液晶層間隙量測設備等)、SANKO三高、NPM日脈、東機產(chǎn)業(yè)(粘度計)、CCS(視檢查光源)、Aitec(視檢查光源)、REVOX萊寶克斯(視檢查光源)、EYE巖崎(UV汞燈)、SEN 日森、SERIC索萊
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日本nippondenshoku電色工業(yè) 透明塑料板色度測定儀ASA-1型
日本nippondenshoku電色工業(yè) 透明塑料板色度測定儀ASA-1型塔瑪薩崎總代代理品牌:OTSUKA大塚電子(薄膜測厚儀、偏光片檢測、納米粒度分析儀、ZATA電位儀、相位差膜·光學材料檢查設備、液晶層間隙量測設備等)、SANKO三高、NPM日脈、東機產(chǎn)業(yè)(粘度計)、CCS(視檢查光源)、Aitec(視檢查光源)、REVOX萊寶克斯(視檢查光源)、EYE巖崎(UV汞燈)、SEN 日森、SER
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NIPPON DENSHOKU日本電色LCD用玻璃/反射鏡頭透過率和反射率測定儀MG-III型
NIPPON DENSHOKU日本電色LCD用玻璃/反射鏡頭透過率和反射率測定儀MG-III型日本電色MG-II 400是基于車用鏡子(ISO 5740標準)的反射率間接測定法的間接測定式鏡面反射率計。此儀器可以測量帶有鏡面的樣品的反射率。只需將樣品固定在測量孔的支架上,然后按下操作面板上的按鈕,測量數(shù)據(jù)即可顯示在顯示屏上,測量操作非常簡單。此款儀器是測量表面電鍍樣品、表面拋光樣品、汽車后視鏡、和