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HORIBA 堀場 Lumetta 緊湊型光譜儀 國內(nèi)總代
HORIBA 堀場 Lumetta 緊湊型光譜儀 國內(nèi)總代代理品牌:OTSUKA大塚電子(薄膜測厚儀、偏光片檢測、納米粒度分析儀、ZATA電位儀、相位差膜·光學(xué)材料檢查設(shè)備、液晶層間隙量測設(shè)備等)、SANKO三高、NPM日脈、東機產(chǎn)業(yè)(粘度計)、CCS(視檢查光源)、Aitec(視檢查光源)、REVOX萊寶克斯(視檢查光源)、EYE巖崎(UV汞燈)、SEN 日森、SERIC索萊克、各類日本光源 索
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HORIBA 堀場 VS20 系列OEM微型光譜儀塔瑪薩崎一級代理
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日本進(jìn)口堀場MicroHR系列短焦長成像光譜儀 塔瑪薩崎一級代理
日本進(jìn)口堀場MicroHR系列短焦長成像光譜儀 塔瑪薩崎一級代理代理品牌:OTSUKA大塚電子(薄膜測厚儀、偏光片檢測、納米粒度分析儀、ZATA電位儀、相位差膜·光學(xué)材料檢查設(shè)備、液晶層間隙量測設(shè)備等)、SANKO三高、NPM日脈、東機產(chǎn)業(yè)(粘度計)、CCS(視檢查光源)、Aitec(視檢查光源)、REVOX萊寶克斯(視檢查光源)、EYE巖崎(UV汞燈)、SEN 日森、SERIC索萊克、各類日本光
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堀場 LIBS 光譜儀激光誘導(dǎo)擊穿光譜 (LIBS)國內(nèi)總代
堀場 LIBS 光譜儀激光誘導(dǎo)擊穿光譜 (LIBS)國內(nèi)總代代理品牌:OTSUKA大塚電子(薄膜測厚儀、偏光片檢測、納米粒度分析儀、ZATA電位儀、相位差膜·光學(xué)材料檢查設(shè)備、液晶層間隙量測設(shè)備等)、SANKO三高、NPM日脈、東機產(chǎn)業(yè)(粘度計)、CCS(視檢查光源)、Aitec(視檢查光源)、REVOX萊寶克斯(視檢查光源)、EYE巖崎(UV汞燈)、SEN 日森、SERIC索萊克、各類日本光源
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日本堀場 iHR系列中等焦長成像光譜儀 塔瑪薩崎代理
日本堀場 iHR系列中等焦長成像光譜儀 塔瑪薩崎代理代理品牌:OTSUKA大塚電子(薄膜測厚儀、偏光片檢測、納米粒度分析儀、ZATA電位儀、相位差膜·光學(xué)材料檢查設(shè)備、液晶層間隙量測設(shè)備等)、SANKO三高、NPM日脈、東機產(chǎn)業(yè)(粘度計)、CCS(視檢查光源)、Aitec(視檢查光源)、REVOX萊寶克斯(視檢查光源)、EYE巖崎(UV汞燈)、SEN 日森、SERIC索萊克、各類日本光源 索尼克(
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Gemini 180 日本堀場雙級聯(lián)單色儀 塔瑪薩崎一級代理
Gemini 180 日本堀場雙級聯(lián)單色儀 塔瑪薩崎一級代理代理品牌:OTSUKA大塚電子(薄膜測厚儀、偏光片檢測、納米粒度分析儀、ZATA電位儀、相位差膜·光學(xué)材料檢查設(shè)備、液晶層間隙量測設(shè)備等)、SANKO三高、NPM日脈、東機產(chǎn)業(yè)(粘度計)、CCS(視檢查光源)、Aitec(視檢查光源)、REVOX萊寶克斯(視檢查光源)、EYE巖崎(UV汞燈)、SEN 日森、SERIC索萊克、各類日本光
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HORIBA 堀場 FHR1000高分辨率單色儀 國內(nèi)總代
HORIBA 堀場 FHR1000高分辨率單色儀 國內(nèi)總代代理品牌:OTSUKA大塚電子(薄膜測厚儀、偏光片檢測、納米粒度分析儀、ZATA電位儀、相位差膜·光學(xué)材料檢查設(shè)備、液晶層間隙量測設(shè)備等)、SANKO三高、NPM日脈、東機產(chǎn)業(yè)(粘度計)、CCS(視檢查光源)、Aitec(視檢查光源)、REVOX萊寶克斯(視檢查光源)、EYE巖崎(UV汞燈)、SEN 日森、SERIC索萊克、各類日本光源
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Horiba 堀場 CP140 HoribaCP140光譜儀 塔瑪薩崎代理
Horiba 堀場 CP140 HoribaCP140光譜儀 塔瑪薩崎代理代理品牌:OTSUKA大塚電子(薄膜測厚儀、偏光片檢測、納米粒度分析儀、ZATA電位儀、相位差膜·光學(xué)材料檢查設(shè)備、液晶層間隙量測設(shè)備等)、SANKO三高、NPM日脈、東機產(chǎn)業(yè)(粘度計)、CCS(視檢查光源)、Aitec(視檢查光源)、REVOX萊寶克斯(視檢查光源)、EYE巖崎(UV汞燈)、SEN 日森、SERIC索萊克