HORIBA堀場 DeltaFlex全自動(dòng)模塊化熒光壽命光譜儀國內(nèi)總代
代理品牌:OTSUKA大塚電子(薄膜測厚儀、偏光片檢測、納米粒度分析儀、ZATA電位儀、相位差膜·光學(xué)材料檢查設(shè)備、液晶層間隙量測設(shè)備等)、SANKO三高、NPM日脈、東機(jī)產(chǎn)業(yè)(粘度計(jì))、CCS(視檢查光源)、Aitec(視檢查光源)、REVOX萊寶克斯(視檢查光源)、EYE巖崎(UV汞燈)、SEN 日森、SERIC索萊克、各類日本光源 索尼克(風(fēng)速計(jì)、流量計(jì)等)、坂口電熱(加熱器、制冷片)、NEWKON新光(針孔機(jī))、NS精密科學(xué)(柱塞泵、高壓耐腐蝕防爆泵) 、SIBATA柴田科學(xué)、SAKURAI櫻井
優(yōu)勢品牌:AND艾安得、TOA-DKK東亞電波、JIKCO吉高、RKC理化工業(yè)、KYOWA共和、IIJIMA飯島電子、HORIBA堀場、EXCEL艾庫斯、HEIDON新東科學(xué)、USHIO牛尾、TOPCON拓普康、ORC歐阿西、SEKONIC日本世光、Tokyokoden東京光電、DSK電通、SAGADEN嵯峨電機(jī)、FUNATECH船越龍、HIKARIYA光屋、POLARION普拉瑞、HAYASHI林時(shí)計(jì)、MACOME碼控美、TML東京測器等等各日本品牌工業(yè)產(chǎn)品
全自動(dòng)模塊化熒光壽命光譜儀
兼具高性能和靈活性的熒光壽命測試系統(tǒng),可利用時(shí)間相關(guān)單光子技術(shù)(TCSPC)測試方法,快速有效地采集熒光壽命數(shù)據(jù)
DeltaFlex 全自動(dòng)模塊化熒光壽命光譜儀是我們的Delta系列新一代時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)熒光壽命測試儀器之一,其可提供最大的靈活性。
該系統(tǒng)可實(shí)現(xiàn)跨越11個(gè)數(shù)量級的發(fā)光壽命測試,且無需更換線纜或板卡。其核心是DeltaHub電子計(jì)時(shí)設(shè)備,它提供幾乎無損的計(jì)數(shù),能夠?qū)崿F(xiàn)從25ps到1s時(shí)間范圍的壽命測試。DeltaFlex由HORIBA高脈沖頻率光源、高靈敏度探測器及超低死時(shí)間的電子計(jì)時(shí)單元組成,能夠快速、高效地采集熒光壽命數(shù)據(jù)。
全新的F-Link總線設(shè)計(jì)使得模塊化簡單易行,系統(tǒng)能夠自動(dòng)檢測到添加到儀器中的任意組件,并且可以實(shí)現(xiàn)控制軟件自動(dòng)控制。
隨著生物探針和光伏等應(yīng)用領(lǐng)域逐漸擴(kuò)展到近紅外區(qū)域,因此實(shí)現(xiàn)近紅外區(qū)域的時(shí)間分辨測試非常重要。DeltaFlex可與多種近紅外探測器結(jié)合,為近紅外時(shí)間分辨測試提供解決方案。
DeltaFlex系統(tǒng)由可替換的DeltaDiode激發(fā)光源、DeltaHub電子計(jì)時(shí)單元和PPD皮秒檢測器組成??赏ㄟ^增加激發(fā)和發(fā)射單色儀實(shí)現(xiàn)波長選擇,從而可實(shí)現(xiàn)時(shí)間分辨熒光光譜(TRES)等的全光譜壽命采集。TDM-800 單色儀可提供低時(shí)間色散。系統(tǒng)配備帶有數(shù)字溫度傳感器和磁力攪拌器的樣品架。
我們還提供DeltaDiode短壽命測試光源,SpectraLED長壽命測試脈沖光源、單色儀和珀耳帖溫度控制等眾多附件。DeltaFlex可以通過F-Link光譜儀總線輕松升級以及自動(dòng)控制等。
高脈沖頻率激光光源和PPD檢測器可實(shí)現(xiàn)低至25ps的熒光壽命測量
每秒高達(dá)1000次的時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)(TCSPC)測量技術(shù),非常適合動(dòng)力學(xué)研究
搭配單色儀實(shí)現(xiàn)波長選擇
覆蓋紫外到近紅外波長范圍的DeltaDiodes脈沖激發(fā)光源可供選擇。有關(guān)完整詳細(xì)信息請參閱 DeltaDiode頁面
SpectraLED光源可用于獲取更長的發(fā)光壽命(微秒到秒),且提供紫外到近紅外波長范圍光源選擇
可升級到基于單色儀的NIR系統(tǒng)(DeltaFlex-NIR-H或DeltaFlex-NIR-R)
通過F-Link模塊輕松添加附件
綜合軟件包
測量模式
熒光壽命25ps到1s
動(dòng)態(tài)時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)(TCSPC)方法,可連續(xù)測量1毫秒內(nèi)1~10000次衰減,直到1 分鐘內(nèi)1次衰減。
各向異性測試, 解卷積以分辨更短的旋轉(zhuǎn)相關(guān)時(shí)間
時(shí)間分辨發(fā)射光譜 (TRES),可一次采集多達(dá)100個(gè)波長的壽命衰減曲線
穩(wěn)態(tài)光譜測量