基于SmartSPM最先進(jìn)的掃描探針顯微鏡和XploRA拉曼微光譜儀的完全集成系統(tǒng)。 XploRA Nano結(jié)構(gòu)緊湊、完全自動化且易于使用，它將AFM-Raman的力量集中在一個經(jīng)濟(jì)實(shí)惠但功能齊全的軟件包中，使TERS成像成為現(xiàn)實(shí)。經(jīng)驗(yàn)證的TERS系統(tǒng)。 多樣品分析平臺 宏觀、微觀和納米尺度的測量都可以在同一個平臺上進(jìn)行。 易于使用 全自動化操作，在幾分鐘內(nèi)開始測量，而不是幾小時內(nèi)! 真正的一致性 高空間分辨率，自動測繪平臺，完整的顯微鏡可視化選項(xiàng)。 高收集效率 自上而下和斜向拉曼檢測，在共定位和針尖增強(qiáng)測量（拉曼和光致發(fā)光）中獲得最佳分辨率和產(chǎn)量。 共同定位和針尖增強(qiáng)測量（拉曼和光致發(fā)光）。 高光譜分辨率 最終的光譜分辨率性能，自動切換的多光柵，拉曼和光致發(fā)光的寬光譜范圍分析。 高空間分辨率 納米級的光譜分辨率（低至10納米），通過針尖增強(qiáng)的 光學(xué)光譜（拉曼和光致發(fā)光）。 多技術(shù)/多環(huán)境 眾多的SPM模式，包括AFM、導(dǎo)電和電模式（cAFM, KPFM）、STM、液體電池和電化學(xué)環(huán)境，以及化學(xué)制圖。 通過TERS/TEPL。通過一個工作站和一個強(qiáng)大的軟件控制來完全控制2臺儀器，SPM和光譜儀可以同時或獨(dú)立操作 穩(wěn)健性/穩(wěn)定性 高諧振頻率的AFM掃描器，操作時遠(yuǎn)離噪音!不需要主動隔振就能獲得高 無需主動隔振即可獲得高性能。